Ссылки для упрощенного доступа

logo-print

Получен рентгеновский снимок с разрешением меньше нанометра


Специалисты из национальной лаборатории Аргон (Argonne National Laboratory) совместно с компанией Xradia Inc. усовершенствовали метод рентгеновской микроскопии для наблюдения за поверхностями материалов с разрешением менее 1 нанометра (одна миллиардная часть метра) в режиме реального времени.


Новый метод позволит более детально изучать такие явления как коррозию, каталитические реакции, адсорбцию ионов и многие другие. Он послужит хорошим дополнением атомно-силовой микроскопии, поскольку позволяет вести наблюдения за твердыми поверхностями без использования специальных наноигл.


XS
SM
MD
LG